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X선분석
유기/무기 소재의 측정, 시험, 분석, 연구개발에 관한 업무를 성심껏 도와 드릴것을 약속합니다.
한국고분자시험연구소㈜에서는 유/무기재료의 정밀한 성분분석을 위하여 X선을 이용한 기기분석서비스를 수행하고 있습니다. X선은 그 파장의 특성상, 유기물/ 무기물에 함유된 다양한 원소의 종류와 함량, 화학결합을 분석하는데, 유용하게 사용됩니다. 제일 먼저 “상담•분석신청서” 를 작성하여 polymer@polymer.co.kr 혹은 팩스(02-963-2587)로 보내주시면, 담당연구원으로부터 빠르고 정확한 답변을 받아보실 수 있습니다.
분석기기
| 분석기기명 | 기기명 설명 | 분석내용 |
|---|---|---|
| EDX (EDS) | Energy Dispersive X-ray Spectroscopy | 시료에 전자선(Electron beam)을 조사시 방출되는 X선 에너지를 이용하여 함유된 원소의 종류와 함량을 조사하는 기기 SEM(주사전자현미경)에 연결하여, 미세시료의 C(탄소)~U(우라늄)까지의 표면원소분석이 가능함. EDS, EDAX라고도 함 |
| WD-XRF | Wavelength dispersive X-ray Fluorescent Spectroscopy | 시료에 X-ray를 조사시 여기전자가 방출하는 형광(X선 파장)을 이용하여 함유된 원소의 종류와 함량을 조사하는 기기, 일반적으로 B~U까지 가능 |
| ED-XRF | Energy dispersive X-ray Fluorescent Spectroscopy | 시료에 X-ray를 조사시 여기전자가 방출하는 형광(x선 에너지)을 이용하여 함유된 원소의 종류와 함량을 조사하는 기기 일반적으로 Na~U까지 검출. 1mm작은 크기의 시료가 가능한 장점이 있음 |
| XPS (ESCA) | X-ray Photoelectron Spectroscopy | 시료의 표면에 X-선을 입사하여, 방출하는 광전자(Photoelectron)의 에너지를 측정함으로써 시료표면의 조성 및 화학적인 결합상태를 알 수 있음. ESCA라고도 함. 원소성분별 Depth profile 가능, 부위별 원소성분 mapping 가능. |
| XRD | X-ray Diffractometer | X선이 어떤 각도로 결정표면에 입사되어 표면의 결정내 원자층에 의해 산란되어 회절상을 얻게 되고, X선 회절상으로부터 재료의 결정구조 확인 및 정성분석이 가능. Bragg’s law,  |
| EPMA | Electron Probe Micro-Analysis | EPMA은 가속된 전자빔을 시료의 작은 부분에 입사시켜 발생하는 X-선으로부터 시료의 구성 형태와 원소를 정량해 내는 방법입니다. SEM에는 보통 한 개의 EDS가 있는 반면, EPMA는 한 개의 EDS에 3 ~ 4 개의 WDS를 내장하여 정밀원소분석이 가능, 표면의 원소분포가 분석가능 |
EDS 분석예
XRF 분석예
XPS 분석예
플라즈마 처리전 후 XPS 스펙트럼
XPS를 이용한 원소성분의 Depth profile
XPS를 이용한 3차원 depth profile
XRD분석예
