XPS 분석
다양한 유기/무기 소재의 연구개발에 관한 업무를 성심껏 도와드릴 것을 약속합니다.
XPS(X-ray Photoelectron Spectroscope)는 시료의 표면에 X-선을 입사하여 방출하는 광전자(Photoelectron)의 에너지를 측정함으로써, 시료표면의 조성 및 화학적인 결합상태를 알 수 있고, 원소의 성분별 depth profile도 가능합니다.
XPS는 시료에 X-선을 입사시켜 방출되는 광전자를 이용하여 고체표면과 계면의 구성원소나 그의 화학결합 상태 및 박막의 두께를 밝혀내는 장치입니다. 금속, 촉매, 반도체소자재료, 세라믹, 박막, 고분자재료 등의 연구에 널리 이용되고 있습니다.‘간편 상담문의’ 또는 ‘분석신청 바로가기’를 통해 접수해주시면, 담당연구원으로부터 빠르고 정확한 답변을 받아보실 수 있습니다.
| 분석명 | 분석내용 |
| XPS (X-ray Photoelectron Spectroscope) |
시료 표면의 원소조성 확인 가능 시료의 화학결합 분석 가능 시료의 depth profile 분석 가능 |
검출 원소 범위
XPS 화학결합
XPS 분석으로 얻게 되는 Binding energy spectrum으로 분석 부위에서 검출된 원소뿐만 아니라 세부적으로는 그 원소의 화학적인 결합상태를 확인하실 수 있습니다.
XPS Depth profile
XPS Depth profile 분석으로 여러 금속 층으로 이루어진 시료의 각 층의 성분을 확인할 수 있습니다. 일정 속도로 시료를 깎아 들어가면서 깊이별로 어떤 원소가 분포해 있는지 파악이 가능합니다. 또한 스퍼터 속도에 따른 상대적인 층의 두께에 대한 정보도 얻으실 수 있습니다.
