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공지사항

다양한 유기/무기 소재의 연구개발에 관한 업무를 성심껏 도와드릴 것을 약속합니다.

미세표면물성에 관한 안내

  • 작성자 : 관리자
  • 등록일 : 2013-07-17 14:47:06
  • 조회수 : 600

미세표면물성

 

한국고분자시험연구소㈜ 에서는 고분자를 비롯한 유무기화학소재(Organic/Inorganic Materials)의 미세표면물성에 대한 시험분석을 서비스하고 있습니다. 규격시험뿐만 아니라 비규격시험, 맞춤분석 등의 문의 및 상담은 아래 주소 혹은 연락을 주시면 친절히 상담하여 드리겠습니다. 제일 먼저 상담·분석신청서”(홈피왼편)를 작성하여 polymer@polymer.co.kr 혹은 팩스(02-963-2587)로 보내주시면, 담당연구원으로부터 빠르고 정확한 답변을 받아보실 수 있습니다.

 

분석 및 견적문의:

e-mail) polymer@polymer.co.kr

 

1. 나노인덴터  (Nano IndenterXP)

l  주요사항 및 특징 :

미소압자를 이용하여 압입 또는 긁기를 수행하여

힘과 변위를 측정한 후, 그로부터 박막이나 미세소

자의 기계적 물성을 얻는다. 기본적으로 탄성계수,

경도, 파괴 인성, 표면윤곽 등을 측정한다.

l  주요성능

-최대 하중 500 mN, 힘 측정 분해능 50 nN

-최대 압입 길이 500 μm

-변위 측정 분해능 0.01 nm                    

  

2. 마이크로비커스경도계

l  주요사항 및 특징 :

-꼭지 각 136°의 다이아몬드제 4각뿔 압자 로 시험편에 피라미드형의 압입 자국을 내고 대각선의 길이를 측정하여 환산표에서 경도를 구한다.

  

3. 표면조도 ? Surface profiler

l  주요사항 및 특징

- 스타일러스(Tip)가 시료를 scan하면서 코팅

된 박막의 두께, 표면 거칠기 등의 시료의 표

면특성을 분석하는데 사용된다.

l  주요성능

-해상도 : 0.100 μm/sample

- : 1.00 mg

 

4. 표면조도 ? AFM

l  주요사항 및 특징 :

-캔틸레버를 이용하여 원자간에 작용하는 척력과

인력의 작용(van der waals force)에 의해 다양한

반도체 소재 및 박막의 표면분 석에 활용된다.

표면의 마찰력과 같은 물리 적 표면 특성 뿐만

아니라 bias를 인가하여 전기적인 표면 특성을

분석할 수 있다.

l  주요성능

-스캔크기 : 5 μm

-데이터크기 : 500 nm

-측정모드 : Tapping mode, Contact mode, Non contact mode

 

5. Optical profiler

l  주요사항 및 특징 :

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

다양한 파장을 갖는 백색광을 기준면과 샘플표면에 조사하여, 반사되어 돌아온 광이 상호 중첩되어, 보강간섭과 상쇄간섭이 발생하도록 한다. 이런 조건에서, 피에조 이송기를 이용하여 샘플과의 거리를 변경시키면서, 보강간섭이 일어나는 점을 계측하여 이미지를 형성한다.

l  주요성능

-스캔 범위 : 수직 - 180um, 수평 - 65um ~ 650um
-
분해능 : 수평분해능
- 0.2 ~ 4um
-
수직분해능
- WSI 0.5nm, PSI 0.1nm
-
렌즈 종류 : x10, x50, x100