공지사항
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[서비스 안내] 할로겐이온/원소, 표면원소분석 Total Solution
- 작성자 : 관리자
- 등록일 : 2020-06-22 17:42:27
- 조회수 : 245
▷ 할로겐 이온/원소분석 장비
분석기기 | 영문명 | 분석항목 | 적용 |
IC | Ion Chromatograph | 이온교환수지를 충전한 분리컬럼을 이용하여 이온을 ppm수준으로 정량. 음이온 Br-, Cl-, F-, NO2-, NO3-, PO43-, SO42- 분석. (양이온 Li+, Na+, K+, NH4+, Ca2+, Mg2+ 도 분석 가능) | 액체(수용액) |
C-IC | Combustion- Ion Chromatograph | IC 장비에 연소장치를 달아 이를 이용하여 시료를 연소시켜 발생하는 가스를 IC로 분석하는 원리. F, Cl, Br, I, S 를 수 ppm~ 수십 % 까지 정량 가능. | 고체, 액체 |
▷ 표면 원소 screening 장비
분석기기 | 영문명 | 분석항목 | 적용 |
XRF | X-ray Fluorescence Spectrometer | 에너지가 가해진 시료 표면 원자에 의해 방출되는 X선의 파장과 강도를 측정하여 각 원소들의 상대적인 함량을 확인. 파장분산형(WD)은 B~U, 에너지분산형(ED)은 Al~U까지 검출. 검출된 원소를 산화물 형태로도 계산 가능. | 고체, 액체 |
SEM-EDX | Scanning Electron Microscope -Energy Dispersive X-ray Spectroscope | 미세조직의 형상을 관찰하는 SEM 장비에 EDX를 장착하여 X-선을 이용하여 B~U까지 원소분석 및 원소의 분포 mapping가능. | 고체 |
XPS | X-ray Photoelectron Spectroscope | 시료표면에 X-선을 입사시켜 방출되는 광전자의 에너지를 측정하여 시료표면의 조성, 화학적인 결합상태 및 박막의 깊이 분석. | 고체 |