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공지사항

다양한 유기/무기 소재의 연구개발에 관한 업무를 성심껏 도와드릴 것을 약속합니다.

[서비스 안내] 할로겐이온/원소, 표면원소분석 Total Solution

  • 작성자 : 관리자
  • 등록일 : 2020-06-22 17:42:27
  • 조회수 : 245

▷ 할로겐 이온/원소분석 장비


분석기기

영문명

분석항목

적용

IC

Ion Chromatograph

이온교환수지를 충전한 분리컬럼을 이용하여 이온을 ppm수준으로 정량음이온 Br-, Cl-, F-, NO2-, NO3-, PO43-, SO42- 분석. (양이온 Li+, Na+, K+, NH4+, Ca2+, Mg2+ 도 분석 가능)

액체(수용액)

C-IC

Combustion-

Ion Chromatograph

IC 장비에 연소장치를 달아 이를 이용하여 시료를 연소시켜 발생하는 가스를 IC로 분석하는 원리. F, Cl, Br, I, S 를 수 ppm~ 수십 까지 정량 가능.

고체액체



▷ 표면 원소 screening 장비


분석기기

영문명

분석항목

적용

XRF

X-ray Fluorescence Spectrometer

에너지가 가해진 시료 표면 원자에 의해 방출되는 X선의 파장과 강도를 측정하여 각 원소들의 상대적인 함량을 확인파장분산형(WD) B~U, 에너지분산형(ED) Al~U까지 검출검출된 원소를 산화물 형태로도 계산 가능.

고체액체

SEM-EDX

Scanning Electron Microscope

-Energy Dispersive X-ray Spectroscope

미세조직의 형상을 관찰하는 SEM 장비에 EDX를 장착하여 X-선을 이용하여 B~U까지 원소분석 및 원소의 분포 mapping가능.

고체

XPS

X-ray Photoelectron Spectroscope

시료표면에 X-선을 입사시켜 방출되는 광전자의 에너지를 측정하여 시료표면의 조성화학적인 결합상태 및 박막의 깊이 분석.

고체