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FE-SEM 분석
유기/무기 소재의 측정, 시험, 분석, 연구개발에 관한 업무를 성심껏 도와 드릴것을 약속합니다.
FE-SEM은 고해상도 및 고배율, 저손상 표면분석을 위해 활용하는 장비로서 미세구조분석, 고분자 morphology, 필름의 단면분석, 입도분석이 가능하며, EDS 장비로 미지시료의 정성, 정량분석이 가능합니다.
제일 먼저 “상담•분석신청서”(홈피왼편)를 작성하여 polymer@polymer.co.kr 혹은 팩스(02-963-2587)로 보내주시면, 담당연구원으로부터 빠르고 정확한 답변을 받아보실 수 있습니다.
FE-SEM 분석 서비스 개요
| 사용기기 | 조건 | 분석 내용 |
|---|---|---|
| FE-SEM (Field Emission Scanning Electron Microscope) |
배율 : x 25 ~ x 500 000 | 고해상도, 저손상 분석 가능 |
전계방출형 주사전자현미경은 일반적인 현미경인 열전자방출방식의 gun과 달리 electron source인 filament metal 표면에 강한 electric filed를 걸어주어 전자를 방출시키는 gun type의 현미경입니다.
이러한 현미경의 가장 큰 특징은 일반 SEM 보다 분해능이 뛰어난 장점을 가지고 있어 high resolution의 image를 관찰 할 수 있다는 장점과 쉽게 electron beam의 damage를 입는 시료들에 대해서 낮은 가속전압에서 비교적 고배율(최대 x 100 000) 관찰이 용이하다는 점입니다.
고해상도를 요구하는 박막재료와 저전압에서 고배율로 관찰 해야 하는 생물 재료 등을 분석하는데 필수적인 장비입니다.
FE-SEM 분석예
유리 표면 이물질
다공성 분말
Pore와 Nanowire
탄소섬유 단면 도금 두께 확인
Ni 입자
분말 입자
